Дифракция рентгеновского излучения (XRD) представляет собой всеобъемлющий метод анализа материалов, который не нарушает их целостность. Он используется для изучения характеристик материалов, включая их состав по фазам, структуру и текстуру. Этот подход применим для анализа разнообразных видов материалов, включая порошковые, твердые и даже жидкие образцы.

Большинство материалов состоят из мельчайших кристаллитов. Химическая композиция и структурный тип этих кристаллических образований называются "фазами". Материалы могут представлять собой либо однофазные структуры, либо многофазные смеси, включая как кристаллические, так и аморфные компоненты. В приборе рентгеновской дифракции различные кристаллические фазы порождают уникальные дифракционные образцы. Идентификация данных фаз достигается путем анализа сравнительных дифракционных образцов рентгеновских лучей, полученных от неизвестных образцов, и их последующего сопоставления с дифрактограммами из эталонных баз данных. Этот метод напоминает процесс сравнения отпечатков пальцев при расследовании преступлений.Самая полная база данных соединений поддерживается ICDD (Международным центром дифракционных данных).

С XRD Empyrean компания Malvern Panalytical установила новый стандарт в разработке совершенной рентгеновской платформы для анализа порошков, тонких пленок, наноматериалов и твердых объектов.
Empyrean — это настоящая многоцелевая исследовательская рентгеновская платформа. Как никакая другая доступная система, Empyrean рассчитана на настоящее и на годы вперед.

Компания ProLabSupport предлагает купить XRD Empyrean спектрометры от производителя Malvern Panalytical в любой доступной комплектации, под любые задачи с пуско-наладочными работами, обучением сотрудников и последующим гарантийным и постгарантийным обслуживанием.