РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ

Рентгенофлуоресцентные спектрометры (XRF)

Malvern Panalytical (Великобритания)
Malvern Panalytical (Великобритания)
Malvern Panalytical (Великобритания)
Malvern Panalytical (Великобритания)
Malvern Panalytical (Великобритания)
Malvern Panalytical (Великобритания)
Рентгенофлуоресцентный анализ (XRF) является распространенным методом в научных и промышленных исследованиях. Этот анализ отмечается универсальностью, точными результатами, быстрым выполнением измерений и легкостью в обращении.Метод XRF (рентгенофлуоресцентного анализа) работает на принципе связи между интенсивностью рентгеновских лучей и уровнем концентрации различных элементов в исследуемом материале. При подвергании образца сильному рентгеновскому излучению возникает флуоресцентное излучение атомов. Это излучение напрямую связано с концентрацией атомов в образце, и его интенсивность прямо пропорциональна этой концентрации.

В волнодисперсионных спектрометрах, флуоресцентное излучение подвергается анализу и преобразованию в спектр с помощью кристалла-монохроматора. Далее интенсивность излучения измеряется количественно с использованием детектора и специализированной счетной электроники.В энергодисперсионных спектрометрах, с другой стороны, флуоресцентное излучение разделяется на спектры с помощью полупроводниковых детекторов (например, из Si или Ge). В этом случае, все излучение образца зафиксировано и преобразовано в электрические сигналы, создавая спектр, который отражает количество энергетических импульсов для каждого конкретного элемента.


В рентгенофлуоресцентном анализе фотоны первичного рентгеновского излучения (из рентгеновской трубки или радионуклидного источника) воздействуют на атомы исследуемого материала. Под влиянием этого излучения атомы активируются, а их электроны перемещаются на уровни с большей энергией. Атомы находятся в активированном состоянии короткое время, после чего возвращаются в нормальное состояние. Электроны внешней оболочки занимают освободившееся пространство, а избыток энергии либо излучается в виде дополнительного фотона, либо передается другому электрону. Этот вторичный фотон обладает энергией, находящейся в диапазоне рентгеновских лучей, что расположено между ультрафиолетовым и гамма-излучением в электромагнитном спектре.

Компания Malvern Panalytical предоставляет обширный выбор рентгенофлуоресцентных спектрометров и связанного с ними оборудования для выполнения элементного анализа. Эти XRF-анализаторы подходят для различных областей применения и представлены в разных вариантах, начиная от настольных XRF-систем и заканчивая высокоэффективными XRF-устройствами с широкими возможностями использования.


Компания ProLabSupport предлагает купить XRF-спектрометры от производителя Malvern Panalytical в любой доступной комплектации, под любые задачи с пуско-наладочными работами, обучением сотрудников и последующим гарантийным и пост гарантийным обслуживанием.
©Pro Lab Support. 2021. Все права защищены.